關鍵詞:原子力顯微鏡 膜技術 膜污染 膜清洗
摘要:介紹了原子力顯微鏡(AFM)的基本原理、工作模式,敘述了AFM在無機、有機及生物膜污染和不同清洗環境下的機理研究中的應用。AFM因其具有高分辨率成像及工作環境多樣等優點,在膜科學領域已經得到廣泛應用。AFM與其他分析技術相結合,可深層闡釋膜污染及清洗機理,從而實現優化膜清洗方案,提高膜清洗效率。在未來的研究中,AFM的強大分析測量功能,將使其在開發改變膜表面特性的膜材料,尤其是提高抗污性的新膜材料領域發揮巨大作用,從而有力地推動膜科學迅速發展。
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